Awaji S., Teranishi R., Izumi T., Sato Y., Yamada K., Kaneko K., Nishiyama T., Otaguro K., Horita H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, fabrication, TFA-MOD process, nanodoping, nanoscaled effects, heat treatment, microstructure, pinning centers, grain size, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, annealing process, pinning force, X-ray diffraction, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.